1620-2008 - IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials
- Språk
- Okänt
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| IEEE | uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat | 978-1-5044-6933-3 |
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| IEEE | uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat | 978-1-5044-6933-3 |